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基于STM32的电能质量检测技术研究
被引:34
作者
:
郑一维
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机构:
桂林电子科技大学TCR研究室
桂林电子科技大学TCR研究室
郑一维
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李长俊
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桂林电子科技大学TCR研究室
桂林电子科技大学TCR研究室
李长俊
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吴讯驰
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华南理工大学自动化科学与工程学院
桂林电子科技大学TCR研究室
吴讯驰
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陈尚松
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桂林电子科技大学TCR研究室
桂林电子科技大学TCR研究室
陈尚松
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]
机构
:
[1]
桂林电子科技大学TCR研究室
[2]
华南理工大学自动化科学与工程学院
来源
:
国外电子测量技术
|
2011年
/ 30卷
/ 06期
关键词
:
电能质量检测;
内嵌式智能仪器;
STM32微处理器;
D O I
:
10.19652/j.cnki.femt.2011.06.022
中图分类号
:
TM933.4 [电能测量、电度表];
学科分类号
:
摘要
:
目前国内外已有多种检测电能质量的方法,介绍了一种基于ARM Cortex-M3内核的32位处理器STM32内嵌式智能仪器模式设计的方案。利用STM32内置A/D以及ATT7022B芯片对信号进行多通道采集,对各电能参数进行检测和分析。运用处理器自带的SD卡和USB接口对所测大量数据进行存储和传输,并通过彩色液晶屏实时显示所测数据,检测设备间通过2.4 G无线通信模块进行数据交换。实际运行表明该设备操作简单、技术指标完全符合国家相关标准,具有较好的应用、推广价值。
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