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检测纳米微粒粒径方法的研究
被引:16
作者
:
何琳
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0
h-index:
0
机构:
上海交通大学分析测试中心
何琳
李刚
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机构:
上海交通大学分析测试中心
李刚
机构
:
[1]
上海交通大学分析测试中心
[2]
上海交通大学分析测试中心 上海
[3]
上海
来源
:
现代科学仪器
|
2003年
/ 02期
关键词
:
纳米微粒;
粒径检测;
光子相关法;
原子力显微镜;
扫描电镜;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TH744 [物理光学仪器];
学科分类号
:
080401
[精密仪器及机械]
;
摘要
:
用光子相关法、原子力显微镜和扫描电镜三种测试方法测定了同一标准样品的粒径 ,比较了三种测试方法在纳米粒径检测方面的特点。光子相关法给出纳米微粒的平均粒径和多分散系数 ,而原子力显微镜和扫描电镜在测定粒径的同时直接观察到微粒的外貌
引用
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页数:2
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白春礼
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2002,
(01)
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