共 4 条
[1]
[2]
[3]
[4]
消光法测量微粒尺寸的测量下限的研究
被引：36
作者：
郑刚
蔡小舒
卫敬明
王乃宁
机构：
[1] 上海理工大学仪表学院
来源：
基金：
上海市自然科学基金;
关键词：
光透消光法,测量下限,微粒尺寸;
D O I：
10.19650/j.cnki.cjsi.1998.05.011
中图分类号：
O432.2 [光度学（测光学）];
学科分类号：
070207 [光学];
摘要：
根据Ｍｉｅ光散射理论，本文详细讨论了用可见光波段的光透消光法（Ｌｉｇｈｔｅｘｔｉｎｃｔｉｏｎ）测量微粒尺寸的测粒下限。分析及计算表明，采用合适的最优化计算方法，光透消光法可用于测量亚微米级及以下的超细颗粒。文中给出了数值模拟计算结果及实测结果。
引用
收藏
页数：5
相关论文