电晕紫外光脉冲与电晕电流脉冲相关性研究

被引：22

作者：

王灿林 ^{[1
]}

廖永力 ^{[1
]}

王黎明 ^{[2
]}

王柯 ^{[1
]}

机构：

[1] 清华大学电机工程与应用电子技术系

[2] 清华大学深圳研究生院电力系统国家重点实验室深圳分室

来源：

高电压技术 | 2007年 / 07期

关键词：

电晕; 紫外光; 光电倍增管; 电流脉冲; 放电; 相关性;

D O I：

10.13336/j.1003-6520.hve.2007.07.020

中图分类号：

TM851 [电晕对绝缘的影响];

学科分类号：

摘要：

为解决传统上多采用接触式检测电晕产生的电流脉冲研究电晕特征存在的最大缺陷是易受外界干扰严重的问题,采用光电倍增管精确测量短距离内紫外光的强度,研究了电晕电流脉冲和紫外光脉冲的相关性特征。结果表明,短距离内,电晕产生的紫外光强度与距离平方成反比,且与电晕电流脉冲信号相关性很强,其幅值特性及统计个数特性与电流脉冲信号对应较好,故紫外光信号可作为特征量代替电晕电流脉冲信号分析电晕特征。

引用

页码：88 / 91+128 +128

页数：5

共 11 条

[1] 高压输电线路紫外在线检测系统 [J].