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光栅投影三维测量的原理及关键技术分析
被引:13
作者:

牛小兵
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洪昕
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来源:
关键词:
光栅投影;
三维面形测量;
相位测量;
配准拼接;
D O I:
10.19650/j.cnki.cjsi.2001.s2.096
中图分类号:
TH741.6 [];
学科分类号:
0803 ;
摘要:
针对光栅投影三维测量技术的原理进行了综述 ,并就国内外的发展和应用状况 ,对测量中的关键技术 ,如相位测量、解相位、面形连续性、数据配准和拼接等进行了分析 ,说明了该测量方法的优越性
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