直流偏压下透折膜/水溶液体系的介电解析

被引:1
作者
赵孔双
花井哲也
机构
[1] 厦门大学化学系固体表面物理化学国家重点实验室,京都大学化学研究所厦门,宇治市,日本
关键词
浓度极化; In; 介电弛豫; 介电松弛; 介电性质; CPL; 直流偏压;
D O I
暂无
中图分类号
O645 [溶液];
学科分类号
摘要
在直流偏压下,结合I-V特征曲线对由Visking透析膜和水溶液构成的体系在100Hz-13MHz的频率范围进行了介电测量.当直流偏压超过I-V特征曲线所给出的极限电流密度时,该体系显示了一个显著的介电弛豫,它是由于在膜表面产生的浓度极化层引起的.在农度极化层和体相溶液的串联回路模型基础上,对此介电弛豫进行了介电解析,进而从实验上测得的介电参数获得了特征浓度极化层构造的参数,以及体相溶液的电导和电容的值.这些值与在离子义换膜体系得到的结果相比较,可认为这种透析膜在稀溶液中是呈弱荷电性质的.进一步,用介电弛豫的圆弧规则进行了电容和电导的频率依存性算,其结果证明该弛豫具有驰豫时间分布,它可考虑为是一种与浓度极化层有关的非均匀分布的介电弛豫机理.
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页码:154 / 160+162 +162
页数:8
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共 2 条
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