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微光CCD噪声测试研究
被引：6
作者：
柏连发，周建勋，张保民
机构：
[1] 南京理工大学电子工程与光电技术学院
来源：
关键词：
电荷耦合器件，微光，噪声测试;
D O I：
10.14177/j.cnki.32-1397n.1994.03.011
中图分类号：
TB52 [声学测量];
学科分类号：
0804 ;
摘要：
该文在大量实践与调研工作的基础上，分析比较了目前国内外有关ＣＣＤ（电荷耦合器件）噪声参数的各种测试方案，阐述了微光ＣＣＤ噪声参数的测试技术与方法。
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