ICP—AES法测定炼锑中杂质元素

被引：2

作者：

滕松根

机构：

[1] 江西进出口商品检验局南昌

来源：

冶金分析 | 1993年 / 03期

关键词：

杂质元素; AES; ICP; 待测元素; 炼锑; 重金属冶金;

D O I：

10.13228/j.issn.1000-7571.1993.03.019

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

<正>炼锑中杂质元素(Cu、Fe、Pb、Se)的分析方法已有许多报导,然而这些方法在分析杂质元素时大多采用溴化挥发除去基体锑.因溶样分离诸手续冗长繁琐,样品较易受污染,且测定周期又长,故在应用上受到一定限制.基于电感耦合等离子体发射光谱法(ICP—AES),具有检出限低,线性动态范围宽,基体效应及元素间干扰少,又可同时测定多元素等特点.本文对基体锑与被测元素之间谱线干扰影响和以酒石酸溶液作掩蔽剂防止溶样过程中产生锑水解等问题进行了研究.

引用

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