基于模拟与遗传进化的电路测试生成方法研究

被引：3

作者：

潘中良

张光昭

机构：

[1] 中山大学电子系!广州,中山大学电子系!广州

来源：

关键词：

数字电路; 测试生成; 故障模拟; 遗传进化;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.1999.05.009

中图分类号：

TM932 [数字式测量及仪表];

学科分类号：

080802 ;

摘要：

基于模拟的测试矢量生成(STPG)是数字电路测试生成中的一类主要方法,本文提出一种基于故障模拟与遗传进化技术的电路测试生成方法,给出了方法的详细实现步骤。该方法能减少在产生电路的输入矢量时的随机性,可充分利用已生成的一部分矢量的内在特性,提高了STPG方法的效率

引用

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