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单片机系统在核电磁脉冲辐照下的效应研究
被引:14
作者
:
侯民胜
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机构:
军械工程学院静电与电磁防护研究所!河北石家庄
侯民胜
刘尚合
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机构:
军械工程学院静电与电磁防护研究所!河北石家庄
刘尚合
王书平
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机构:
军械工程学院静电与电磁防护研究所!河北石家庄
王书平
机构
:
[1]
军械工程学院静电与电磁防护研究所!河北石家庄
来源
:
强激光与粒子束
|
2001年
/ 05期
关键词
:
核电磁脉冲;
单片机系统;
辐照效应;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP368.1 [微处理机];
学科分类号
:
081201 ;
摘要
:
核电磁脉冲 (NEMP)、雷电电磁脉冲 (LEMP)和高功率微波 (HPM)等强电磁脉冲对单片机系统具有很强的干扰和破坏作用。为研究它们对单片机系统的各种效应 ,利用 GTEM室产生的核电磁脉冲 ,对单片机系统进行了辐照效应实验。实验表明 ,单片机系统在强电磁脉冲作用下 ,会出现“死机”、重启动、通讯出错等现象。基于实验 ,讨论了单片机系统的各种效应产生的原因
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页码:623 / 626
页数:4
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