基于红外测温的内部缺陷尺寸、方位的计算方法研究

对具有内部缺陷的平板试件的传热建立了三维物理和数学模型 ,提出了通过表面红外测温确定内部缺陷尺寸、方位的计算方法。同时 ,分析了测量误差和缺陷导热系数对计算结果的影响。通过计算分析可以得到结论 :本方法可以精确地确定内部缺陷的尺寸和方位 ,测量误差对内部缺陷估计的影响较小 ;在试件的导热系数远大于缺陷的导热系数时 ,缺陷导热系数的微小变化对缺陷尺寸和位置的计算没有明显的影响 ;适用于任何尺寸、方位可用有限个参数描述的内部缺陷的检测。