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扫描质子探针及其在地学研究中的应用
被引:9
作者
:
王毅民
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机构:
地矿部岩矿测试技术研究所
王毅民
朱节清
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机构:
地矿部岩矿测试技术研究所
朱节清
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机构:
谷英梅
吴思本
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机构:
地矿部岩矿测试技术研究所
吴思本
机构
:
[1]
地矿部岩矿测试技术研究所
[2]
中国科学院上海原子核研究所
[3]
地矿部矿床地质研究所
来源
:
岩矿测试
|
1990年
/ 03期
关键词
:
质子探针;
X射线荧光;
元素分布图;
D O I
:
10.15898/j.cnki.11-2131/td.1990.03.020
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
扫描质子探针是近年发展起来的微区分析、痕量元素分析和元素空间分布分析手段。本文简要介绍扫描质子探针的方法原理、特点、实验装置及其应用,特别指出了在地学研究领域中的应用前景。
引用
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页码:222 / 227
页数:6
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