全膜脉冲电容器寿命特性的试验研究

被引:8
作者
代新
蒋正龙
林福昌
姚宗干
机构
[1] 华中理工大学
关键词
全膜,脉冲电容器,寿命;
D O I
10.13336/j.1003-6520.hve.1998.03.021
中图分类号
TM53 [电容器];
学科分类号
080801 ;
摘要
研究了充电电压、振荡放电时的反峰电压、压紧系数等对全膜脉冲电容器寿命特性的影响。对全膜脉冲电容器试品的击穿点进行了解剖分析,并探讨了由于电弱点和引线片电接触对绝缘的影响及其造成的击穿。
引用
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共 2 条
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蒋正龙 ;
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林福昌 .
电工技术杂志, 1996, (04) :2-4
[2]   脉冲电容器简化模型的电场计算及击穿分析 [J].
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