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EMCCD技术——单光子水平的成像探测
被引:16
作者
:
苏学征
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京东方科泰科技发展有限公司北京
苏学征
机构
:
[1]
北京东方科泰科技发展有限公司北京
来源
:
现代科学仪器
|
2005年
/ 02期
关键词
:
EMCCD;
微弱光信号;
探测;
增益;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O572.31 [光子与规范粒子交子、引力子入此。];
学科分类号
:
摘要
:
对于极微弱光信号的探测,长期以来一直采用ICCD设备,但其光电转换效率低、空间分辨率差、以及高增益下怕强光的缺点使其使用当中产生诸多不便;现在,E M C C D技术的出现克服了这些问题,尤其是在对极微弱光信号的实时快速动态探测方面具有先天的优势;其探测灵敏度可达对真正单光子事件的检测。
引用
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页码:51 / 53
页数:3
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