低磷胁迫下菜豆根构型性状的QTL定位

在田间和温室筛选的基础上，选取根构型对低磷适应性变化和磷效率均具有显著差异的菜豆基因型ＤＯＲ３６４和Ｇ１９８３３为亲本材料，发展了Ｆ５代重组自交系遗传群体，以基部侧根（以下简称基根）在生长介质中各层的分布、浅根数目以及基根平均生长角度等根构型参数为指标，分析了根构型性状对低磷胁迫适应性变化的遗传特性，发现该性状是一个典型的数量遗传性状。我们进一步应用分子标记技术（ＲＦＬＰ、ＲＡＰＤ、ＡＦＬＰ）对控制其中的一个重要性状（基根平均生长角度）的数量性状座位（ＯＴＬｓ）的进行了分子图谱定位，定位到了该性状对低磷胁迫适应性反应的一些ＱＴＬｓ，并且发现其中部分ＱＴＬｓ与控制菜豆田间磷吸收效率的ＱＴＬ连锁，从而从分子水平上证实菜豆根构型性状与磷吸收效率密切相关，为通过分子标记辅助选择（ＭＡＳ）改良菜豆的磷效率提供了理论基础。