热电离同位素稀释质谱技术在痕量分析中的新进展

被引:16
作者
孟宪厚
机构
[1] 核工业部北京第五研究所
关键词
同位素稀释质谱; 新进展; IDMS; 表面电离; 电子轰击; 电离效率; 痕量分析; 常规分析;
D O I
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学科分类号
摘要
本文介绍1973~1984年间IDMS在地质学、年代学、核科学、海洋地质、海洋化学、环境科学、无机生物化学、临床医学、标准材料分析、高纯试剂分析及冶金学等方面的应用情况,并介绍负离子热表面电离技术、树脂球技术和四极质谱热表面电离技术的发展和应用。
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