切伦科夫辐射“双成像法”测量电子束发射度

被引：14

作者：

谷安佳

丁原涛

赵夔

张保澄

全胜文

鲁向阳

陈佳洱

机构：

[1] 北京大学物理学院重离子物理研究所

[2] 北京大学物理学院重离子物理研究所北京

[3] 北京

来源：

高能物理与核物理 | 2003年 / 02期

关键词：

切伦科夫辐射; “双成像法”; 均方根发射度; 图像处理; 计算机模拟;

D O I：

暂无

中图分类号：

O572.21 [实验与测定];

学科分类号：

070202 ;

摘要：

利用切伦科夫辐射 ,OTR或荧光靶等光学诊断方法进行发射度测量 ,国内外绝大部分实验是用CCD相机观测电子束打靶产生的光斑 ,变化四极透镜的磁场梯度 ,应用“三梯度法”计算出发射度 .文中提出了一种新的“双成像法”测量方法 ,使切伦科夫辐射光通过一长焦距的消色差薄透镜 ,分别在焦平面和像平面获取图像 .通过图像处理 ,前者可分析出电子束散角分布 ,后者可分析出电子束径向分布 ,从而直接得到均方根发射度 .该方法对束流相空间和电荷密度分布无需假设 ,无需借助“三梯度法” ,较其他常规测量方法具有实验装置更简便、测量精度更高和适用性更广等优点 .文中给出了该测量方法对北京大学DC SC光阴极注入器的发射度测量进行计算机模拟实验的结果和分析 .

引用

页码：163 / 168

页数：6

共 3 条

[1] 用于高平均功率自由电子激光器的DC-RF超导腔注入器 [J].

胡岩乐 ;

赵夔 ;

陈佳洱 ;

张保澄 ;

郝建奎 ;

王莉芳 .

高能物理与核物理, 2001, (08) :787-792

[2] 皮秒微脉冲电子束团诊断 [J].

曹忠 ;

刘慰仁 ;

王力列 ;

江力平 ;

丁梅松 ;

张士琛 ;

柳凤英 .

强激光与粒子束, 1992, (04) :501-508

[3]

带电粒子束[M]. 原子能出版社 , (美)小斯坦利·汉弗莱斯(StanleyHumphries, 1999

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