一种新型光电设备响应时间与探测概率自动测试系统

被引：4

作者：

时成文 ^{[1
]}

隋强强 ^{[2
]}

石碧艳 ^{[2
]}

机构：

[1] 东北电子技术研究所

[2] 北京航空航天大学

来源：

关键词：

闭环控制; TMS320LF2407; 可变光阑; 响应时间; 探测概率;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN29 [光电子技术的应用]; TP274 [数据处理、数据处理系统];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ; 0804 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

提出了一种实用新型光电设备系统响应时间及探测概率自动测试系统.该系统采用闭环控制原理,以TMS320LF2407DSP为核心,通过可控模拟目标源、双余度反馈,保证了测试结果的可靠性及准确性.大量的测试试验验证了该方法的有效性.

引用

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