提高光栅投影测量精度的相移精确测量法

被引：52

作者：

潘伟

赵毅

机构：

[1] 上海交通大学模具CAD国家工程研究中心,上海交通大学模具CAD国家工程研究中心上海,上海

来源：

上海交通大学学报 | 2003年 / 07期

关键词：

光栅投影; 相移; 标定误差; 非正弦;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH744 [物理光学仪器];

学科分类号：

080401 [精密仪器及机械];

摘要：

在光栅投影测量的相位计算中 ,采用 Gray编码和相移相结合的方法 ,并针对当前光栅投影测量中相位计算精度不高的问题 ,提出一种新的相移方法 .与传统相移方法相比 ,该方法采用新的投影光栅光强函数 .考虑到光栅投影测量中可能出现的标定误差、投影光非正弦模式以及其他干扰因素 ,在该函数中加入对这些干扰的纠正值 ,从而减少由这些干扰产生的不利影响 ,进一步提高投影光栅和对象测量的精度 .通过对邻近点插值获得的投影光栅 ,条纹精度可以达到亚像素级 .对实际测量获得的投影光栅图像的处理实验 ,证明了该方法的可行性和先进性

引用

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