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基于遗传算法的SOC测试功耗与时间协同优化
被引:4
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
汪滢
[
1
]
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王宏
[
1
]
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李辛毅
[
2
]
机构
:
[1]
中科院沈阳自动化研究所
[2]
沈阳化工学院信息工程学院
来源
:
仪器仪表学报
|
2006年
/ S3期
关键词
:
遗传算法;
协同优化;
SOC测试;
D O I
:
10.19650/j.cnki.cjsi.2006.s3.224
中图分类号
:
TP18 [人工智能理论];
TN47 [大规模集成电路、超大规模集成电路];
学科分类号
:
081104 ;
0812 ;
0835 ;
1405 ;
080903 ;
1401 ;
摘要
:
提出了一种基于遗传算法的SOC功耗与时间协同优化方案。解决了SOC测试中最大瞬时功耗与最小测试时间的矛盾。建立相应的目标函数、约束函数及评估函数,在瞬时功耗不超过规定值的前提下,寻求最短测试时间。方案获得良好的优化效果,实现了SOC测试的可靠与经济。
引用
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页码:2327 / 2328+2334 +2334
页数:3
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