基于嵌入式逻辑分析仪的FPGA测试

被引：11

作者：

李杨

孙玉国

金鑫

机构：

[1] 上海理工大学光学与电子信息工程学院

来源：

仪器仪表学报 | 2006年 / S3期

关键词：

FPGA; 嵌入式逻辑分析仪; SignalTapⅡ;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2006.s3.239

中图分类号：

TM935 [频率、波形参数的测量及仪表];

学科分类号：

080802 ;

摘要：

在高度集成FPGA芯片测试中,其内部信号的实时获取与分析比较困难。对嵌入式逻辑分析仪SignalTapⅡ在FPGA测试中的应用进行了试验研究。将逻辑分析模块嵌入到FPGA信号发生器,构成一个逻辑分析仪。在FPGA芯片工作状态下,实现了内部信号的获取与分析。实验结果表明,应用SignalTapⅡ对FPGA进行测试,操作方便,实时性较高。

引用

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