低强度He-Ne激光对兴奋性神经毒素所致小鼠神经元损伤的防护作用

目的　探讨低强度Ｈｅ Ｎｅ 激光对兴奋性神经毒素所致小鼠神经元损伤的防护作用，为低强度激光在临床上用于治疗脑功能障碍等神经系统疾病提供实验依据。方法　以兴奋性神经毒素谷氨酸（Ｇｌｕ） 或谷氨酸单钠（ＭＳＧ） 建立昆明系小鼠神经元损伤模型。在离体实验中观察了低强度Ｈｅ Ｎｅ 激光对原代培养的小鼠大脑皮层神经元形态结构及培养液中过氧化产物丙二醛（ＭＤＡ） 浓度的影响，同时也观察了小鼠大脑皮层单个神经元内游离钙（［Ｃａ２＋］ｉ）浓度在Ｇｌｕ 和激光作用下的变化。在体实验主要观察了激光对小鼠下丘脑弓状核神经元形态结构的影响。结果　离体实验结果表明，功率３ ｍＷ、能量密度２－３～３－４ Ｊ／ｃｍ２ 的Ｈｅ Ｎｅ 激光持续１０～１５ ｍｉｎ 照射原代培养的小鼠大脑皮层神经元，能减少培养液ＭＤＡ的释放，并能对抗由Ｇｌｕ 所致的皮层神经元损伤；以功率６ ｍＷ、能量密度２８－６Ｊ／ｃｍ２ 的Ｈｅ Ｎｅ 激光照射２－５ ｍｉｎ，还能降低小鼠大脑皮层单个神经元内由Ｇｌｕ 引起的［Ｃａ２＋］ｉ 升高。在体实验结果显示，以功率３ ｍＷ、能量密度１－７×１０４Ｊ／ｃｍ２ 的Ｈｅ Ｎｅ 激光每天１ 次血管内照射３０ ｍｉｎ，持续７ 天，能明显对抗ＭＳＧ所致小鼠下