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水稻幼苗的低温伤害与叶片组织电阻的变化
被引:10
作者
:
论文数:
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机构:
甄立平
刘鸿先
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国科学院华南植物研究所
刘鸿先
机构
:
[1]
中国科学院华南植物研究所
来源
:
植物生理学通讯
|
1985年
/ 04期
关键词
:
水稻幼苗;
耐寒力;
外渗液;
电导度;
人体耐力;
叶片组织;
低温伤害;
电解质外渗率;
D O I
:
10.13592/j.cnki.ppj.1985.04.006
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
<正> 致伤害的低温能明显地引起植物细胞透性的改变,导致离子大量泄漏,通常以测定植物组织外渗液的电导度来表示细胞膜结构与功能受损伤的程度。但是,也有人认为:用植物组织电阻的变化,来反映质膜受损伤的程度,会比植物组织外渗液电导度更为直接些,操作也较简便。因此,引起了许多研究者的兴趣。本试验应用祝宗岭等改进的植物组织中段电压降法,以不同耐寒力的水稻幼苗为
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页码:27 / 29
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