氟中毒大鼠中缝背核5—羟色胺能神经元的免疫细胞化学研究

被引:7
作者
陈学军
宋可钦
马廷贤
宁斌
机构
[1] 锦州医学院病理教研室,中国医科大学组织胚胎教研室,中国医科大学组织胚胎教研室,中国医科大学组织胚胎教研室
关键词
氟中毒大鼠; 中缝背核; 5-HT能神经元; 免疫细胞化学;
D O I
暂无
中图分类号
R363 [病理生理学];
学科分类号
100103 [病原生物学];
摘要
以饮用高氟水的方法制造了雄性大鼠慢性氟中毒模型。对脑干中缝背核5—羟色胺(5—HT)能神经元进行了免疫细胞化学定性、定量研究,结果显示,慢性氟中毒大鼠中缝背核5—HT能神经元略少,部分胞体缩小或肿大。胞质内5—HT阳性反应颗粒减少且界限不清。显微图像分析仪检测上述神经元内5—HT阳性反应颗粒明显减少。本研究揭示,高氟摄入对中枢5—HT能神经元有直接损害,对5—HT的产生有抑制作用。
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页码:194 / 196+255 +255
页数:4
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共 3 条
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