现代测试系统中抗干扰技术的应用

被引:6
作者
陈生春
林瑞霖
倪庆棋
机构
[1] 海军工程大学
[2] 海军工程大学 武汉
[3] 武汉
关键词
测试系统; 干扰因素; 抗干扰;
D O I
暂无
中图分类号
TP274.4 [];
学科分类号
摘要
分析了现代测试系统中引起干扰的主要因素,运用软硬件技术实现的抗干扰方法,。
引用
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页数:2
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共 2 条
[1]
虚拟仪器技术概述 [J].
路林吉 ;
李春森 .
机电一体化, 1999, (06) :12-13+18
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