高压直流绝缘材料表面电荷积聚研究进展

被引：61

作者：

唐炬 ^{[1
]}

潘成 ^{[1
]}

王邸博 ^{[2
]}

傅明利 ^{[2
]}

卓然 ^{[2
]}

机构：

[1] 武汉大学电气工程学院

[2] 不详

来源：

电工技术学报 | 2017年 / 32卷 / 08期

关键词：

直流; 绝缘材料; 表面电荷; 积聚; 综述;

D O I：

10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.2017.08.002

中图分类号：

TM21 [绝缘材料、电介质及其制品];

学科分类号：

摘要：

随着直流输电技术的发展,直流气体绝缘金属封闭开关设备(GIS)因其具有占地面积小、可靠性高、维护少等优点已得到越来越多的关注。相比交流GIS,直流GIS盆式绝缘子存在严重的表面电荷积聚问题,导致其沿面闪络特性下降,制约着直流GIS的工程应用。目前关于高压直流下绝缘材料表面电荷积聚特性及抑制措施的研究已成为国际上的热点,本文对此进行系统性的综述,包括:表面电荷测试的常用技术和电荷反演算法,表面电荷的积聚途径及相应来源,表面电荷积聚的仿真模型,表面电荷积聚的影响因素及调控措施。最后,对表面电荷积聚下一步的研究工作给出了建议。

引用

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页数：12

共 25 条

[1] 重频脉冲放电等离子体处理聚合物材料加快表面电荷消散的实验研究 [J].