不同电阻率测深方法对旁侧不均匀体的反映

被引：13

作者：

强建科

阮百尧

机构：

[1] 中国地质大学

[2] 桂林工学院湖北武汉

[3] 广西桂林

来源：

关键词：

电阻率测深; 旁侧不均匀体; 异常区分; 三维数值模拟;

D O I：

暂无

中图分类号：

P631.322 [];

学科分类号：

0818 ; 081801 ; 081802 ;

摘要：

利用三维有限元数值模拟,重点研究了旁侧三维不均匀体所产生的视电阻率的影响问题,展示了4种常规电阻率测深法在旁侧不均匀体上的异常分布特点;探讨了测深点正下方目标体异常与旁侧不均匀体异常的区别问题,指出旁侧不均匀体的影响是产生电阻率法假异常的主要原因之一。

引用

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