自相关过程的残差控制图

被引：82

作者：

孙静

机构：

[1] 清华大学经济管理学院北京

来源：

清华大学学报(自然科学版) | 2002年 / 06期

关键词：

自相关过程; 控制图; 时间序列模型;

D O I：

10.16511/j.cnki.qhdxxb.2002.06.007

中图分类号：

O212.1 [一般数理统计];

学科分类号：

070103 [概率论与数理统计];

摘要：

常规控制图应用的基本假设是从过程得到的观测值彼此独立。但许多过程出现了自相关现象。该文分别运用单值控制图和残差控制图就受控状况和失控状况的观测值对案例进行了分析比较。结果表明 :当过程存在自相关时 ,运用残差控制图更合适 ,但是 ,当自相关参数大于 0时 ,残差控制图检测过程异常的灵敏性有待提高。对于在现代生产过程中自相关数据 ,建议使用残差控制图 ,来代替传统的控制图

引用

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