基于高阶统计量的红外焦平面非均匀校正算法

被引：2

作者：

徐田华

赵继政

赵亦工

机构：

[1] 西安电子科技大学模式识别与智能控制研究所

来源：

西安电子科技大学学报 | 2006年 / 02期

关键词：

高阶统计量; 红外焦平面阵列; 非均匀校正; 固定图案噪声;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN214 [红外光学器件];

学科分类号：

摘要：

根据高斯噪声高于二阶累积量为零的特性,提出基于高阶统计量的红外焦平面非均匀校正算法,可从图像场景中自适应估计阵列单元的增益和偏置参数.提出的算法包含两个部分,第一部分利用统计矩和累积量周期估计红外焦平面的模型参数,第二部分利用维纳滤波恢复真实图像.仿真图像序列表明这种算法有效降低了固定图案噪声,达到了较高的非均匀校正水平.

引用

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