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集成电路测试相关标准研究与探讨
被引：14
作者：
谢正光
机构：
[1] 湖南怀化学院物理系应用物理教研室湖南怀化
来源：
关键词：
集成电路;
边界扫描;
混合信号电路;
片上系统;
可测性设计;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN407 [测试和检验];
学科分类号：
080903 ;
1401 ;
摘要：
重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题及相关标准,阐述了各标准的作用,分析了这些标准在实际应用中存在的一些问题及其局限性。
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页数：5
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