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铌酸锂的反应离子刻蚀
被引:2
作者
:
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h-index:
机构:
应再生
黄涛
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海交通大学应用物理系
黄涛
机构
:
[1]
上海交通大学应用物理系
来源
:
微细加工技术
|
1992年
/ 01期
关键词
:
集成光学;
铌酸锂;
反应离子刻蚀;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
本文介绍了铌酸锂晶体在四氟化碳气氛中的反应离子刻蚀。对刻蚀参数的选择原则从机理上加以探讨,并对掩膜的选择进行了试验,最后得到线宽为3.5mm的铌酸锂光栅和槽深为1.1mm的铌酸锂沟道的刻蚀样品。
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页码:35 / 38
页数:4
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