三维集成技术的现状和发展趋势

被引:11
作者
吴际
谢冬青
机构
[1] 广州大学计算机科学与教育软件学院
关键词
三维集成电路; 三维晶圆级封装; 三维堆叠技术; 三维片上系统;
D O I
10.16652/j.issn.1004-373x.2014.06.020
中图分类号
TN405 [制造工艺];
学科分类号
080903 ; 1401 ;
摘要
给出了三维技术的定义,并给众多的三维技术一个明确的分类,包括三维封装(3D-P)、三维晶圆级封装(3DWLP)、三维片上系统(3D-SoC)、三维堆叠芯片(3D-SIC)、三维芯片(3D-IC)。分析了比较有应用前景的两种技术,即三维片上系统和三维堆叠芯片和它们的TSV技术蓝图。给出了三维集成电路存在的一些问题,包括技术问题、测试问题、散热问题、互连线问题和CAD工具问题,并指出了未来的研究方向。
引用
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共 2 条
[1]  
Yield Improvement for 3D Wafer-to-Wafer Stacked Memories[J] . Mottaqiallah Taouil,Said Hamdioui.Journal of Electronic Testing . 2012 (4)
[2]  
International Technology Roadmap of Semiconductors .2 www.semi.org .