晶粒长大的Monte Carlo模拟方法——递归统计法测定晶粒度

被引：5

作者：

魏承炀

高英俊

张丽娜

机构：

[1] 广西大学物理科学与工程技术学院

来源：

中国有色金属学报 | 2008年 / 01期

关键词：

递归统计; 晶粒度; Monte Carlo方法; 晶粒长大;

D O I：

10.19476/j.ysxb.1004.0609.2008.01.023

中图分类号：

TG111 [金属物理学];

学科分类号：

0702 ; 070205 ;

摘要：

应用Monte Carlo(MC)法模拟在周期性边界条件下的晶粒长大行为。利用MC法模拟时,晶界处格点的迁移引起晶粒的长大,根据这一主要特征提出一种精确快速的测定晶粒度的新方法—递归统计法,然后采用递归统计方法测量晶粒度。结果表明,递归统计法测得的晶粒度比截点法的更精确,而且测量精确度不受模型的格点类型以及晶粒的尺寸、形状等的影响,测量速度比其他统计方法要快。

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页数：6

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