共 2 条
[2]
可靠性试验及其统计分析[M]. - 国防工业出版社 , 戴树森 编, 1983
Weibull分布异常数据检验
被引：7
作者：
徐晓岭
王蓉华
机构：
[1] 上海师范大学
[2] 上海师范大学 上海
[3] 上海
来源：
关键词：
异常数据;
屏蔽效应;
指数分布;
寿命分布;
次序统计量;
Weibull;
检验统计量;
D O I：
暂无
中图分类号：
O212.1 [一般数理统计];
学科分类号：
020208 ;
070103 ;
0714 ;
摘要：
本文提出了一个新的检验Weibull分布的异常数据的方法,这个检验能够避免遭受屏蔽效应,为了便于实际工作者的需要,本文还给出了检验统计量的分位数表。
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页数：8
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