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矿物中单个有机包裹体测试与TOF-SIMS技术的应用
被引：6
作者：
李荣西
周生斌
机构：
[1] 中国科学院地球化学研究所矿床地球化学开放研究实验室!贵阳,长安大学地球科学系,西安,吐哈石油勘探开发研究院试验中心!哈密
来源：
基金：
中国博士后科学基金;
关键词：
有机包裹体;
分析测试;
飞行时间二次离子质谱;
D O I：
10.16461/j.cnki.1000-4734.2000.02.012
中图分类号：
P575 [矿物的鉴定及分析];
学科分类号：
070901 ;
摘要：
有机包裹体是一种富含有机质的矿物流体包裹体。单个有机包裹体在研究成岩成矿作用和油气成藏历史过程方面具有重要的实用价值。目前常用于单个有机包裹体分析的技术有荧光光谱、显微傅立叶红外光谱、激光拉曼光谱和二次离子质谱 (SIMS)等。本文对这些方法的应用现状和存在的问题进行了客观的分析 ,同时还介绍了一种可用于单个有机包裹体分析的新技术飞行时间二次离子质谱 (TOF SIMS) ,对其分析原理、方法和应用前景等进行了讨论
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页码：172 / 176
页数：5
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