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药剂吸附层厚度计算新方法研究
被引：2
作者：
刘亚川
田喜林
机构：
[1] 东北大学,地矿部矿产综合利用研究所
来源：
关键词：
吸附层厚度，X射线光电子能谱，角分辨分析法;
D O I：
暂无
中图分类号：
TD923.1 [];
学科分类号：
摘要：
提出了一种计算吸附层厚度的新方法。此法应用ＸＰＳ（Ｘ射线光电子能谱）角分辨分析法测试所获得的在不同入射角下特征原子的谱峰强度变化，推导出运用于吸附层厚度不同时的计算公式，并以实例进行了计算说明。
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页数：6
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