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利用自适应阈值条纹调制度分析方法进行位相去包裹研究
被引：4
作者：
殷功杰
朱传贵
刘波
薛鸣球
机构：
[1] 中国科学院西安光机所
来源：
关键词：
条纹分析，位相去包裹，图像处理;
D O I：
暂无
中图分类号：
O438 [信息光学];
学科分类号：
摘要：
提出了一种基于条纹调制度分析的位相去包裹新算法。该算法用于三维测量中位相图的去包裹处理，取得了好的实验结果。它同样适用于激光干涉条纹的处理。
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