用X射线激光M-Z干涉仪诊断点聚焦CH等离子体电子密度

被引：4

作者：

郑无敌 ^{[1
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张国平 ^{[1
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王琛 ^{[2
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孙今人 ^{[2
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方智恒 ^{[2
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顾援 ^{[2
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傅思祖 ^{[2
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机构：

[1] 北京应用物理与计算数学研究所

[2] 上海激光等离子体研究所

来源：

物理学报 | 2007年 / 07期

关键词：

类镍银X射线激光; Mach-Zehnder干涉仪; 密度反演; Abel变换;

D O I：

暂无

中图分类号：

O536 [辐射与测量];

学科分类号：

摘要：

在神光Ⅱ装置上,用软X射线激光Mach-Zehnder干涉仪诊断了点聚焦CH等离子体电子密度Ne分布,介绍了实验结果.通过Abel变换进行了密度反演,给出了Ne的2D分布,测得的最高Ne为3.2×1021cm-3.通过同1.5维JB19程序以及二维XRL2D程序的模拟结果的比较,发现高密度区,限流因子取0.05的理论结果同实验相符,但是低密度区实验得到的Ne分布下降得更快,而且理论模拟的Ne二维分布同实验结果在细节上有比较大的差别.粗略的误差分析显示,干涉仪面型误差是实验误差的主要来源.

引用

页码：3984 / 3989

页数：6