无源超高频射频识别系统路径损耗研究

被引：21

作者：

佐磊 ^{[1
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何怡刚 ^{[1
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李兵 ^{[1
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朱彦卿 ^{[2
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方葛丰 ^{[2
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机构：

[1] 合肥工业大学电气与自动化工程学院

[2] 湖南大学电气与信息工程学院

[3] 电子测试技术国防科技重点实验室

来源：

物理学报 | 2013年 / 62卷 / 14期

关键词：

射频识别; 路径损耗; 菲涅耳区; 线性回归;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN820 [一般性问题]; TP391.44 [];

学科分类号：

080904 ; 0811 ; 081101 ; 081104 ; 1405 ;

摘要：

基于射频识别技术原理及Friis传输方程,导出了自由空间下无源超高频射频识别(RFID)系统路径损耗表达式.结合菲涅耳区理论,分析了菲涅耳余隙及阅读器天线至标签间距两因变量条件下第一菲涅耳区受阻隔对RFID系统路径损耗的影响,并提出了双斜率对数距离路径损耗模型.在开阔室内环境下,测试了菲涅耳余隙及阅读器天线至标签间距变化时的系统路径损耗.测试结果表明:菲涅耳余隙大于第一菲涅耳区半径1.5倍时,刃形障碍物对系统路径损耗影响较小;相比传统对数距离路径损耗模型,双斜率模型标准差减小10%.

引用

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