耀斑的日面位置与电离层SITEC的关系

被引：2

作者：

张东和

萧佐

常青

机构：

[1] 北京大学地球物理系

[2] 北京航空航天大学电子工程系北京中国电波传播研究所青岛分所青岛

[3] 北京

[4] 北京

来源：

科学通报 | 2001年 / 16期

关键词：

耀斑; SITEC; GPS;

D O I：

暂无

中图分类号：

P182.52 [];

学科分类号：

070401 ;

摘要：

利用1997～1999年GOES卫星的耀斑观测资料以及国际GPS网的GPS观测资料, 对作为耀斑参数之一的耀斑日面位置与电离层SITEC的关系进行了分析. 结果表明: 除了耀斑的X射线最大辐射通量, 耀斑日面位置也是影响TEC增幅的一个重要参数. 一个X射线最大辐射通量较小但其太阳经度角较小的耀斑对电离层的影响可能会强烈于X射线最大辐射通量较大但其经度角较大的耀斑. 当X射线最大辐射通量相近时, 耀斑距日面中线的经度角越小, 耀斑对电离层的影响越大.

引用

页码：1339 / 1341

页数：3

共 4 条

[1] 利用GPS计算TEC的方法及其对电离层扰动的观测 [J].