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高性能单片机C8051F020及其在露点测试系统中的应用
被引：7
作者：
余丽霞
虞鹤松
刘昱欣
机构：
[1] 西安交通大学
来源：
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TP368.1 [微处理机];
学科分类号：
080201 [机械制造及其自动化];
摘要：
<正> 应用背景目前在食品加工、饲料、家用电器等行业中广泛的应用的露点测试系统要求具有高精度、高可靠性及高稳定性等特点。而且整个测试过程中需要动态连续或者间歇性动态连续进行。测试系统的控制核心部分一般采用单片机系统,其硬件电路示意图如图1所示,这种单片机系统虽然基本能满足生产需要,但是,由于系统扩展芯片多,线路复杂,也都不同程度地暴露出资源再扩受限、易出故障、编程麻烦、升级维护困难等缺点,而且可靠性和
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