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斜视圆迹环扫SAR模式特性分析及成像方法
被引：9
作者：
廖轶
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杨泽民
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邢孟道
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保铮
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包敏
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机构：
[1] 西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室
[2] 西安电子科技大学电子工程学院
来源：
基金：
中央高校基本科研业务费专项资金资助;
关键词：
合成孔径雷达;
斜视圆迹环扫;
多普勒参数;
二维频谱;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN958.2 [脉冲多普勒制雷达];
学科分类号：
080903 [微电子学与固体电子学];
摘要：
圆迹环扫合成孔径雷达是一种通过增加方位扫描速度来实现快速大场景成像的新型合成孔径雷达成像模式.相比于常见的正侧视圆迹环扫合成孔径雷达,斜视圆迹环扫合成孔径雷达由于其独特的观测角度,拥有正侧视圆迹环扫合成孔径雷达所不具备的观测优势.但是,现有的正侧视圆迹环扫合成孔径雷达信号特性分析方法以及成像技术已不再适用于斜视圆迹环扫合成孔径雷达.针对此问题,结合斜视圆迹环扫合成孔径雷达的运动特点,建立了回波距离模型,并进一步分析了方位扫描速度、多普勒特性及方位分辨率等参数,从中揭示了斜视圆迹环扫合成孔径雷达和经典直线模式之间的内在联系,给出了适用于斜视圆迹环扫合成孔径雷达的成像算法.
引用
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页数：8
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