水流场PIV测试系统示踪粒子特性研究

被引:49
作者
阮驰
孙传东
白永林
王屹山
任克惠
丰善
机构
[1] 中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室
关键词
粒子图像测速; 示踪粒子; 离轴测试; 聚苯乙烯;
D O I
暂无
中图分类号
O439 [应用光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
粒子图像测速技术(PIV)是一种新的流场测量技术,通过对流场中的示踪粒子进行多次曝光成像,获得具有相关性的示踪粒子图像,利用软件对粒子图像进行处理后可得到被测流场的信息。水流场PIV测量利用合适的示踪粒子运动来表征流场状况,示踪粒子的特性对PIV最终测量结果影响很大。讨论了密度、直径、表面反射率等示踪粒子特性对系统实验测量的影响,并特别针对水流场斜入射离轴PIV测试,选择合适的特性参数设计研制了一种简单实用的水流场示踪粒子。通过在直径为100~200μm的聚苯乙烯微球上利用化学方法进行表面镀银,使示踪粒子具有高的光散射特性,实验结果表明这种微粒非常适合于水流场示踪。
引用
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