测试仪器发展概述

被引：36

作者：

孙亚飞

陈仁文

周勇

龚海燕

机构：

[1] 南京航空航天大学智能材料与结构航空科技重点实验室,南京航空航天大学智能材料与结构航空科技重点实验室,南京航空航天大学智能材料与结构航空科技重点实验室,南京航空航天大学智能材料与结构航空科技重点实验室南京,南京,南京,南京

来源：

关键词：

测试仪器; VXI总线; PXI总线; 虚拟仪器;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2003.05.011

中图分类号：

TH70 [一般性问题];

学科分类号：

摘要：

简要概述了测试仪器的发展历史 ,同时对其各阶段的主要结构形式、性能特点等进行了介绍 ,最后对其未来发展方向进行了探讨。

引用

页码：480 / 484+489 +489

页数：6

共 5 条

[1]

数字信号处理与VXI自动化测试技术.[M].屠良尧;李海涛编著;.国防工业出版社.2000,

[2]

智能仪器原理及应用.[M].赵茂泰编著;.电子工业出版社.1999,

[3]

智能仪器设计基础.[M].赵新民主编;.哈尔滨工业大学出版社.1999,

[4]

现代测量与控制技术词典.[M].现代测量与控制技术词典编委会编;.中国标准出版社.1999,

[5]

VXI总线测试平台技术.[M].陈光〓编著;.电子科技大学出版社.1996,