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型架双经纬仪三维测量法
被引:9
作者
:
陆敬舜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南京航空航天大学机械工程系
陆敬舜
机构
:
[1]
南京航空航天大学机械工程系
来源
:
南京航空航天大学学报
|
1994年
/ 05期
关键词
:
光学测量;测量误差;数学模型;经纬仪应用;精度场;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
V262.44 [];
学科分类号
:
082503 ;
摘要
:
分析了飞机装配型架测量中目前常用的光学工具法和机械坐标法的优缺点,从而说明了"型架双经纬仪三维测量法"必将得到日益广泛应用的原因。介绍了该方法的"定标"、空间一点位且的测量和计算原理以及所依据的几何模型的同时,论证了该方法在各种型架光学测量方法中所独有的以点作为单元的测量目的、一次测量多次处理、易与CAD/CAM系统集成等特点以及该方法的优越性和发展方向.本文还提出了测量精度的计算方法、数学模型以及"精度场"概念,为测量布局的优化设计、精度指标含义的明确提供了理论依据和计算方法。
引用
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页码:628 / 634
页数:7
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