高压脉冲电场对酵母菌和大肠杆菌存活率的影响

被引：25

作者：

孙静

孔繁东

祖国仁

但果

邹积岩

机构：

[1] 大连轻工业学院生物与食品工程学院,大连轻工业学院生物与食品工程学院,大连轻工业学院生物与食品工程学院,大连理工大学电气系,大连理工大学电气系大连,大连,大连,大连,大连

来源：

食品科学 | 2004年 / 02期

关键词：

高压脉冲电场; 酵母菌; 大肠杆菌; 存活率;

D O I：

暂无

中图分类号：

TS201 [基础科学];

学科分类号：

083201 ;

摘要：

本文研究了高压脉冲电场对酿酒酵母和大肠杆菌的致死率的影响,并对脉冲电场的灭菌机理进行了初步探究。结果表明:随着电场强度、脉宽和脉冲个数的增加,微生物的存活率显著下降,在9kV/cm场强下作用1000个脉宽为11μs的脉冲,可得到最优灭菌效果—酵母菌活菌数下降4.5个对数值,大肠杆菌活菌数下降3个对数值。电场作用后死亡酵母菌表面出现凹陷,胞内物质外渗,支持了用以解释高压脉冲电场灭菌机理的“电穿孔”学说。

引用

页码：87 / 90

页数：4

共 6 条

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