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基于SOC测试的IEEE P1500
被引：5
作者：
何仑
杨松华
机构：
[1] 上海大学微电子中心
[2] 上海大学微电子中心 上海市延长路号
[3] 上海市延长路号
来源：
关键词：
SOC;
可测性设计;
IEEE P1500;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN406 [可靠性及例行试验];
学科分类号：
140101 [集成纳电子科学];
摘要：
随着集成电路技术的飞速发展以及SOC系统的出现,电路的测试难度在不断增大,严重制约了SOC技术的发展,文中从SOC可测性设计出发全面介绍IEEEP1500,通过研究对比当前适用于SOC领域的测试方法,着重讨论了其在SOC测试方面应用的优点和不足。
引用
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