一种基于非并行BIT的测试性模型

被引：2

作者：

王栋 ^{[1
]}

陈圣俭 ^{[1
]}

张伟伟 ^{[2
]}

陈健 ^{[1
]}

机构：

[1] 装甲兵工程学院控制工程系

[2] 海军装备论证研究院

来源：

关键词：

机内测试; 故障诊断; 测试性设计; 信息流模型;

D O I：

10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2008.06.031

中图分类号：

TP311.52 [];

学科分类号：

081202 ; 0835 ;

摘要：

通过条件测试解决了在LRU间增加非并行BIT不满足信息流模型测试的一般定义的问题,同时解决了信息流反馈的问题,提高了故障隔离率.提出了基于信息流模型的集中一分布式BIT体系结构,建立了基于该体系结构的系统级BIT测试模型.通过对BIT测试模型的改进,建立了边界扫描测试模型.

引用

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页数：4