波片厚度的双光路对比测量

被引：2

作者：

倪志波 ^{[1
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宋连科 ^{[1
]}

刘建苹 ^{[2
]}

郑萌萌 ^{[1
]}

王静 ^{[1
]}

机构：

[1] 曲阜师范大学激光研究所

[2] 曲阜师范大学物理工程学院

来源：

曲阜师范大学学报(自然科学版) | 2007年 / 04期

关键词：

波片; 线偏振光; 延迟量; 厚度;

D O I：

暂无

中图分类号：

O436 [物理光学（波动光学）];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

介绍了一种测量波片厚度的新方法.根据偏振光干涉的理论分析,推导出了计算波片厚度的解析式.在此基础上,设计、建立了一套双光路对比测试光强的实验系统.利用该实验系统对含有待测石英薄片的光路进行多次测量,将实验数据用推导出的波片厚度计算公式处理,得到了待测薄片的厚度.

引用

页码：63 / 64+72 +72

页数：3

共 9 条

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