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电子部件故障诊断的Dempster-Shafer信息融合算法
被引：16
作者：
朱大奇
杨永清
于盛林
机构：
[1] 江南大学工业自动化系
[2] 南京航空航天大学测试工程系 江苏无锡
[3] 江苏无锡
[4] 江苏南京
来源：
关键词：
信度函数;
模糊信息融合;
DS信息融合;
故障诊断;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN707 [测试、检验];
学科分类号：
080902 ;
摘要：
针对电路故障元件诊断的不确定性问题,给出了光电雷达电子部件故障定位的多传感器Dempster-Shafer(DS)信息融合方法.通过测试电路中的被诊断元件的工作温度和工作电压,得出了DS证据理论中两传感器对各待诊断元件的信度函数分配,再分别利用利用模糊规则和DS联合规则得到融合后的信度函数分配,从而确定故障元件.单传感器诊断与融合诊断的结果比较说明多传感器融合算法具有较高的准确性,而模糊融合算法与DS算法的结果比较则说明DS算法在故障诊断方面更具有优越性.
引用
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页数：5
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